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●特長 本装置は高速メモリーやシステムＬＳＩの温度環境試験用に開発した装置です。 冷却加熱素子には、新開発スケルトンペルチェ素子を使用しており、温度上昇下降速度が従来品の数倍に、熱歪による耐久性も向上しました。 使用温度範囲は－40℃～＋120℃までの温度を自由に可変する事が出来、制御精度は±0.5℃の高精度な制御が可能です。オプションでパソコンから温度設定が出来ますのでシステムへの組み込みも可能です。 |
●ブロック図
●温度制御装置仕様
| 型 式 |
ＦＣ－１２２４
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ＦＣ－２４１０
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| 出 力 |
２４Ｖ ６．５Ａ または １２Ｖ ６．５Ａ |
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| 温度設定範囲 |
－４０℃～＋１２０℃ （スケルトンペルチェ素子の温度範囲による）
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| 温度制御方式 |
ＰＩＤ／ＯＮ－ＯＦＦ制御
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ＰＩＤ比例制御
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| 温度制御精度 |
±１．５℃
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±０．１℃
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| 使用温度制御器 |
山武㈱製 ＳＤＣ１５型
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| 使用温度センサ |
Ｐｔ１００ 白金測温抵抗体（標準装備）
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| 外形寸法 (mm) |
W=260 D=200 H=70
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| 電 源 |
ＡＣ１００Ｖ ５０／６０Ｈｚ
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| オプション |
ＲＳ－４８５
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●温度制御装置外観図（mm）
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●関連製品リンク
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ご連絡先
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アクトロニクス株式会社 |
